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파머 리포트
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일반글
퀘이사
6년 전
ISC (아이에스씨)
eakage Current) 측정 등의 전기식 검사 공정을 병행하게 된다. 1) 국내 2) 해외 2~3년 주기(Cycle) 전기적 검사 공정에 사용되는 소켓은 크게 일반적인 환경에서 사용되는 테스트 소켓(Test Socket)과 스트레스 조건에서 사용되는 번인 소켓(Burn-in Socket) 두 가지 종류 로 나눌 수 있다. 번인 소켓은 고온 조건 하에서 임계값에 가까운 전압을 가한 상태에서 제품을 검사하는 소켓으로, 일반적으로 고객이 1년
굿트레이더
6년 전
미국주식 투자현황 - 20년 하반기 중반부의 기록 (램리서치 / 솔라엣지 / 세일즈포스 / 엔비디아 등)
earch)1) 기업개요 - 램리서치 - 세계 1위 반도체 식... j-future.co.kr
